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HB 3-33-1983 卡箍扣

时间:2024-05-30 05:19:39 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8966
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基本信息
标准名称:卡箍扣
中标分类: 航空、航天 >> 航空器与航天器零部件 >> 管件、卡箍、密封件
替代情况:HB 3-33-76;被HB 3-32-2000代替
发布日期:1984-05-31
实施日期:1984-07-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:1页
适用范围

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所属分类: 航空 航天 航空器与航天器零部件 管件 卡箍 密封件
MIL-STD-750E, DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD: TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES (20 NOV 2006)., This standard establishes uniform methods for testing semiconductor devices, including basic environmental tests to determine resistance to deleterious effects of natural elements and conditions surroundingmilitary operations, and physical and electrical tests. For the purpose of this standard, the term "devices" includessuch items as transistors, diodes, voltage regulators, rectifiers, tunnel diodes, and other related parts. This standard is intended to apply only to semiconductor devices.
基本信息
标准名称:热磁式氧分析器检定规程
英文名称:Thermomagnetic Oxygen Analyzers
中标分类: 综合 >> 计量 >> 化学计量
替代情况:被JJG 662-2005代替
发布日期:1990-03-05
实施日期:1991-03-01
首发日期:
作废日期:2005-10-28
出版社:中国计量出版社
出版日期:2004-04-19
页数:7页
书号:155026-1645
适用范围

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所属分类: 综合 计量 化学计量